Patentrecherche II

Ein ganztägiges Seminar zur Recherche nach Patenten, Gebrauchsmustern, Marken und Designs in ausländischen Datenbanken.

Als Teilnehmer werden Sie nach einer Einführung in Datenbanken ausländischer Patentämter (US, CN, …) unter Anleitung eigene Recherchen durchführen.

Sie lernen Methoden zur Suche nach veröffentlichten Patenten, Marken und Designs in diesen Datenbanken kennen.

Seminarleiter: Dr. Beate Frese